뉴스광장
 
홈으로로그인회원가입사이트맵이메일
 
HOME 뉴스광장 국내외 뉴스
전시회 일정
국내전시일정
해외전시일정(상반기)
해외전시일정(하반기)
관련링크
관련협회
연구소
관련도서
관련 채용정보
제목 티니우스 올센(Tinius Olsen), 신제품 비접촉식 광학 신율계 출시
작성자 플라스틱코리아
글정보
Date : 2019/03/02 10:06

 

 

비디오를 사용해 변형률을 측정하는 티니우스 올센(Tinius Olsen)사의 Epsilon ONE은 고정밀, 고해상도, 비접촉식 축변형률 및 변위측정을 수행한다. Epsilon의 포괄적인 광경로 최적화로 여러 가지 광학기술과 신호처리 알고리즘의 통합, 우수한 정확도 및 해상도를 구현했다.

초고해상도 카메라를 바탕으로 최대 3000Hz의 실시간 데이터 전송속도, 광학적 오류원인 최소화 및 노이즈를 최소화해 높은 변형률 해상도와 정확도를 제공하는 신호처리기술을 갖췄다.

높은 해상도와 ISO 0.5/ASTM B-1 기준의 정확도 등급을 보유하고 있기 때문에 금속, 복합소재, 세라믹, CMC(세라믹 복합소재) 등의 탄성계수를 측정하는 데 필요한 작은 변형에서부터 엘라스토머에 이르기까지 다양한 탄성계수의 비접촉 측정에 적합하다.

텔레센트릭(tele-centric) 렌즈를 사용하면 시편이 광학장치에 더 가까이 가거나 멀리 떨어져도 카메라 센서로 보이는 시편의 이미지는 동일한 크기가 유지된다. 이 때문에 테스트 도중 시편 또는 그립이 초점상 밖으로 이동해도 전체 변형률 측정의 정확도를 유지할 수 있는 이점이 있다.

티니우스 올센의 영업 및 사업개발 이사는 “테스트가 진행되는 동안 고정밀 텔레센트릭 렌즈는 변형률이 낮은 소재 및 부품이 초점상을 벗어나면서 발생하는 오류를 제거해준다.

  

  

#티니우스올센 #TiniusOlsen #신제품 #비접촉식 #광학신율계 #출시 #비디오 #변형률 #측정 #EpsilonONE #고정밀 #고해상도 #비접촉식 #축변형률 #변위측정 #광학기술 #신호처리 #알고리즘 #정확도 #초고해상도 #카메라 #3000Hz #실시간 #데이터 #전송속도 #오류원인 #최소화 #노이즈 #변형률 #신호처리기술 #금속 #복합소재 #세라믹 #CMC #세라믹복합소재 #탄성계수 #측정 #엘라스토머 #비접촉측정 #텔레센트릭 #telecentric #렌즈 #시편 #광학장치 #센서 #그립 #텔레센트릭 #초점상 #오류제거 #플라스틱코리아plasticskorea

작성자   비밀번호
18709   옴론(Omron), NX 시리즈 안전네트워크 컨트롤러 출시 플라스틱코리아
18711   오토닉스, 마킹기 ALF-3D 시리즈 출시 플라스틱코리아